[发明专利]高压直流GIL绝缘子表面电荷测量平台及测量方法在审
申请号: | 202211280183.8 | 申请日: | 2022-10-19 |
公开(公告)号: | CN115902441A | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | 何金良;梁芳蔚;李传扬;梁作栋;庄伟建;汤玲玲;曾玉林 | 申请(专利权)人: | 清华大学;江苏金鑫电器有限公司 |
主分类号: | G01R29/24 | 分类号: | G01R29/24;G01R1/18;G01R1/04;G01R1/02 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 雷玉龙 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高压 直流 gil 绝缘子 表面 电荷 测量 平台 测量方法 | ||
1.一种高压直流GIL绝缘子表面电荷测量平台,其特征在于,包括:
横向滑台,所述横向滑台控制用于探测表面电荷的静电探头的水平位置;
纵向滑台,所述纵向滑台与所述横向滑台相连,控制所述静电探头的竖直位置;
径向滑台,所述径向滑台与所述纵向滑台相连,控制所述静电探头的径向位置;
第一步进电机,所述第一步进电机一端与所述径向滑台相连,另一端与旋转轴一端相连,以控制所述旋转轴另一端的所述静电探头绕所述旋转轴的自身轴旋转;
第二步进电机,所述第二步进电机与所述静电探头相连,以调整所述静电探头的旋转角度,控制所述静电探头与被测绝缘子表面垂直;
控制件,所述控制件与所述横向滑台、所述纵向滑台、所述径向滑台、所述第一步进电机、所述第二步进电机相连,用于控制所述横向滑台移动使得所述静电探头移动至绝缘子表面,并控制所述纵向滑台和所述径向滑台使得所述静电探头绕管道中心轴线进行圆周运动和控制所述第一步进电机带动所述旋转轴绕自身轴旋转的同时,控制所述第二步进电机调整所述静电探头的旋转角度,使得所述静电探头与被测绝缘子表面垂直,以通过所述静电探头旋转来测量绝缘子表面电荷。
2.根据权利要求1所述的平台,其特征在于,所述旋转轴为分段式中空薄壁铝管。
3.根据权利要求1所述的平台,其特征在于,还包括:
电机安装座,所述电机安装座设置于所述旋转轴靠近所述径向滑台的一端一端,以固定所述第一步进电机。
4.根据权利要求1或3所述的平台,其特征在于,还包括:
探头安装座,所述探头安装座设置于所述旋转轴远离所述径向滑台的一端,以固定所述静电探头和所述第二步进电机。
5.一种表面电荷T型试验管道,其特征在于,包括:
T型管道;
设置于所述T型管道端部的屏蔽机构,所述屏蔽机构设置于绝缘子与测量平台之间,与所述测量平台垂直布置,以屏蔽所述测量平台对试验管道内部原有电场的分布。
6.根据权利要求5所述的试验管道,其特征在于,
所述屏蔽机构为接地的铝合金圆板。
7.根据权利要求5或6所述的试验管道,其特征在于,还包括:
支架,所述支架与所述屏蔽机构相连,以支撑所述屏蔽机构;
第一滑台,所述第一滑台与所述支架相连,以调整所述屏蔽机构的位置。
8.根据权利要求7所述的试验管道,其特征在于,还包括:
第三步进电机,所述第三步进电机与所述第一滑台相连,以控制所述第一滑台移动。
9.一种高压直流GIL绝缘子表面电荷测量方法,利用权利要求1-4任一项所述的高压直流GIL绝缘子表面电荷测量平台和权利要求5-8任一项所述的表面电荷T型试验管道,其特征在于,在向管道绝缘子施压时,通过屏蔽机构屏蔽测量平台对试验管道内部原有电场的分布,施压结束后,撤回所述屏蔽结构,测量方法包括以下步骤:
控制横向滑台使得静电探头移动至绝缘子表面;
控制纵向滑台和径向滑台使得所述静电探头绕管道中心轴线进行圆周运动以及控制第一步进电机带动旋转轴绕自身轴旋转的同时,控制第二步进电机调整所述静电探头的旋转角度,使得所述静电探头与被测绝缘子表面垂直;
通过所述静电探头旋转进行绝缘子一个圆周表面的电荷测量,重新调整所述静电探头的位置进行下一圆周的测量,直至实现整个绝缘子表面电荷的测量。
10.一种电子设备,其特征在于,包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序,以实现如权利要求9所述的高压直流GIL绝缘子表面电荷测量方法。
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