[发明专利]半导体器件中的电容器结构及其形成方法无效

专利信息
申请号: 99106381.3 申请日: 1999-05-07
公开(公告)号: CN1235378A 公开(公告)日: 1999-11-17
发明(设计)人: 佐甲隆 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242;H01L21/28
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 穆德骏,余朦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在叠层电容器中,该电容器包括在DRAM中并有通过电容器介质膜相互相对且相互分开的电容器下电极和电容器上电极,在包括电容器下电极的尖锐部分的电容器下电极的上表面之间形成附加介质膜,并用电容器介质膜覆盖附加介质膜。因此,在电容器下电极的尖锐部分电场不再局部集中,电容下电极可有大的表面面积。
搜索关键词: 半导体器件 中的 电容器 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种电容器,该电容器包括在半导体器件中并有通过电容器介质膜相互相对且相互分开的第一电极和第二电极,在包括所述第一电极边缘的所述第一电极的表面部分与所述电容器介质膜之间形成附加介质膜。
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