[发明专利]晶片检测方法

摘要

一种自动晶片检测方法，首先提供第一组数据与第二组数据。接着，提供一自动程序，是提供一视介面，使用者只需修改其中简单的几个指令，即可方便检测各种不同的元件特性。执行此自动程序，载入第一组数据，并进行下列选择步骤选择一检测模件，其以电性连接与控制晶片上的多个测试键；再选择欲检测的元件特性，此时自动程序载入第二组数据。最后，自动程序将上述选择结果载入一工作站，然后进行并完成元件特性的检测动作。

主权项

1.一种晶片检测方法，包括下列步骤：提供一晶片，在该晶片上已设有一晶方与一切割道，在该切割道上设有多个测试键；提供一组数据，该组数据中包括至少一元件特性；提供一自动程序，该自动程序用以检测所述元件特性，并开始执行该自动程序；选择一检测模件，该检测模件电性连接多个测试键；选择欲检测的所述元件特性，此时所述自动程序会载入所述组数据，用以参与检测的步骤；以及将上述选择结果载入一工作站，进行并完成所述元件特性的检测动作。