[发明专利]用于测试连接器的测试装置无效

专利信息
申请号: 98108007.3 申请日: 1998-03-31
公开(公告)号: CN1077689C 公开(公告)日: 2002-01-09
发明(设计)人: 千代田贤二 申请(专利权)人: 住友电装株式会社
主分类号: G01R31/04 分类号: G01R31/04;H01R13/00
代理公司: 柳沈知识产权律师事务所 代理人: 李瑞海
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种连接器检测设备的测试装置,用于测试一组金属端子通过矛杆装置而紧固到连接器上的连接器。一个用于测试导电性的探针通过一对具有电极的模制树脂滑块固定。滑块和探针整体地固定在一起而支持一个测试突出部。一个导电元件与一个方块件固定并把导线与固定导电元件连接。固定的导电元件和探针可以相对移动地电连接。探针通过一个滑块可相对移动地固定方块件上。$#!
搜索关键词: 用于 测试 连接器 装置
【主权项】:
1.一种连接器测试设备的测试装置,其中,该连接器安装在连接器检测设备上并包括多个用矛杆紧固到其上的金属端子,该测试装置包括一个安装在该连接器测试设备上的方块件,其特征在于,该测试装置还包括:多个设置在方块件上的针单元,每个针单元包括:一个滑块,该滑块能够相对于方块件进行相对移动,从而弹性地向着以及离开连接器移动;一对探针,装在滑块上,用来测试连接器金属端子的导电性;与所述一对探针相对应的一对矛杆测试件,该一对矛杆测试件一体地形成在滑块上。
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