[发明专利]用于测试连接器的测试装置无效

专利信息
申请号: 98108007.3 申请日: 1998-03-31
公开(公告)号: CN1077689C 公开(公告)日: 2002-01-09
发明(设计)人: 千代田贤二 申请(专利权)人: 住友电装株式会社
主分类号: G01R31/04 分类号: G01R31/04;H01R13/00
代理公司: 柳沈知识产权律师事务所 代理人: 李瑞海
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 连接器 装置
【权利要求书】:

1.一种连接器测试设备的测试装置,其中,该连接器安装在连接器检测设备上并包括多个用矛杆紧固到其上的金属端子,该测试装置包括一个安装在该连接器测试设备上的方块件,其特征在于,该测试装置还包括:

多个设置在方块件上的针单元,每个针单元包括:一个滑块,该滑块能够相对于方块件进行相对移动,从而弹性地向着以及离开连接器移动;一对探针,装在滑块上,用来测试连接器金属端子的导电性;与所述一对探针相对应的一对矛杆测试件,该一对矛杆测试件一体地形成在滑块上。

2.一种如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述滑块和所述一对矛杆测试元件形成为一个整体模制树脂产品。

3.一种如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述滑块向着连接器偏置。

4.一种如权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述滑块由连接在所述方块件和所述滑块之间的压缩弹簧偏置。

5.一种连接器测试设备的测试装置,通过相对移动方块件和一个连接器而测试连接器,其特征在于,上述测试装置包括:

至少一个安排在连接器测试设备上的探针,用于测试连接器,一组金属端子被紧固到连接器上面,上述至少一个探针还和导电测试设备通过导线相连,用于测试连接器的金属端子的导电性;

至少一个滑块,用于固定上述至少一个探针;

一个方块件,以相对于保持在连接器测试设备中的连接器可移动的方式支持着上述至少一个滑动块,它包括,

一个固定的导电元件,固定到上述方块件上,电和机械地与导线之一相连接;

一个连接元件,它相对可移动地使上述固定导电元件和上述至少一个探针以导电状态接触。

6.一种如权利要求5所述的连接器测试设备的测试装置,其特征在于,上述连接元件包括一个管形导电元件,被固定到上述方块件上,上述固定导电元件被紧固到上述连接元件的一端。

7.一种如权利要求6所述的连接器测试设备的测试装置,其特征在于,上述连接部件还包括一个安排在上述管形导电元件中的一个滑动元件,且它偏向于上述固定导电元件的相反端。

8.一种如权利要求7所述的连接器测试设备的测试装置,其特征在于,安排在上述管形导电元件中的上述滑块被设在上述管形导电元件中的压缩弹簧偏移。

9.一种如权利要求5所述的连接器测试设备的测试装置,其特征在于,上述连接元件包括一个偏移元件,它通过上述至少一个探针,而使上述至少一个滑块朝向一个连接器方向偏移。

10.一种如权利要求9所述的连接器测试设备的测试装置,其特征在于,上述连接元件包括一个固定到上述方块件上的管形导电元件,上述固定的导电元件被紧固到上述连接器元件的一端。

11.一种如权利要求10所述的连接器测试设备的测试装置,其特征在于,上述连接元件进一步包括一个设在上述管形导电元件中的滑块并由上述偏移元件朝向上述固定导电元件的相反端偏移。

12.一种如权利要求11所述的连接器测试设备的测试装置,其特征在于,上述偏移元件包括一个位于上述管形导电元件中的压缩弹簧。

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