[发明专利]半导体集成电路及设计方法和记录其设计程序的记录媒体无效
| 申请号： | 98103058.0 | 申请日： | 1998-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN1206224A | 公开（公告）日： | 1999-01-27 |
| 发明（设计）人： | 竹冈贞巳 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | H01L21/70 | 分类号： | H01L21/70;H01L21/82;H01L27/00 |
| 代理公司： | 中科专利代理有限责任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体集成电路及设计方法是配置选择信号输出电路10,通常动作时,选择信号输出电路通过D端的“0”输入,切换选择器12,将部分电路2的输出输入给扫描触发器11。扫描测试时,向选择信号输出电路10输入来自扫描输入端3的“0”或“1”值的选择信号,该选择信号被输入选择器12。选择信号=0时,选择部分电路2一侧,当选择信号=1时,选择时钟信号的生成电路9的时钟信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 设计 方法 记录 程序 媒体 | ||
【主权项】：
1．一种半导体集成电路包括，具有数据输入端及控制端并且构成扫描通路的一部分的存储元件，和在通常动作时，向所述存储元件的数据输入端提供生成数据的第1部分电路，和在通常动作时，向所述存储元件的控制端提供生成信号的第2部分电路，其特征在于：包括选择所述第1部分电路的输出信号和所述第2部分电路的输出信号的任何一方，向所述存储元件的数据输入端供给其选择的信号的选择电路；和指示所述选择电路的选择动作，向所述选择电路输出选择信号的选择信号输出电路；所述选择信号输出电路是在所述通常动作时，所述选择电路选择所述第1部分电路的输出信号，在半导体集成电路的测试时，所述选择电路任意选择所述第1部分电路的输出信号及所述第2部分电路的输出信号的任何一方，输出选择信号。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
