[发明专利]光盘记录介质特性的测试装置无效
| 申请号: | 97119089.5 | 申请日: | 1997-10-24 |
| 公开(公告)号: | CN1178980A | 公开(公告)日: | 1998-04-15 |
| 发明(设计)人: | 徐端颐;蔡忠平;潘龙法 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
| 主分类号: | G11B7/24 | 分类号: | G11B7/24;G11B20/18 |
| 代理公司: | 清华大学专利事务所 | 代理人: | 罗文群 |
| 地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种光盘记录介质特性的测试装置,该装置由物镜及力矩器、光路系统、激光器、恒功率控制、脉宽发生、功率发生、信号探测器以及聚焦预搜索及控制组成。一定功率的激光聚焦于测试样片的记录介质层某点,测定其反射回的光强从而得到该点反射率,再发出一定脉宽、功率的激光脉冲,用于写入或擦除,测定该点的反射率。本发明装置使用准线性区光盘聚焦自动预搜索机制,由简单的通用集成芯片电路即可完成测试,因而成本低,测试方便。 | ||
| 搜索关键词: | 光盘 记录 介质 特性 测试 装置 | ||
【主权项】:
1、一种光盘记录介质特性的测试装置,该装置包括物镜及力矩器、λ/4波片,偏振分束镜、准直整形单元、激光器、恒功率控制、脉宽发生、功率发生、聚焦单元、信号探测器、信号处理,其特征在于还包括聚焦预搜索及控制;恒功率控制使激光器发出一定功率的激光,激光器发出的发散激光束经"准直整形单元"作用成为圆形平行光束,遇偏振分束镜后,一个偏振方向的光透射,经λ/4波片后由物镜聚焦至样片,由样片反射回的激光经过物镜,再次通过λ/4波片,偏振方向总共偏转90°,遇偏振分束镜反射,经聚焦单元作用由信号探测器探测其光强及聚焦误差,聚焦预搜索及控制完成聚焦自动预搜后切入聚焦闭环控制,并保持聚焦状态,脉宽发生和功率发生产生一定脉宽和功率的激光脉冲实现写入或擦除;所述的聚焦预搜索及控制由信号生成、判别比较、比例积分微分校正、电子开关、搜索驱动、功率驱动组成,样片记录面和聚焦点位置的差值由信号探测器检测并经信号生成电路处理得到聚焦误差电信号,输入比例积分微分校正,同时作判别比较,若未达到设定阈值,则判别比较输出信号控制电子开关断开,并控制搜索驱动信号生成电路驱动力矩器带动物镜搜索盘片;若达到设定阈值,则控制搜索驱动信号生成电路停止搜索,接通电子开关,比例积分微分校正输出信号作用于力矩器,完成聚焦自动预搜索。
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