[发明专利]光盘记录介质特性的测试装置

说明书

本发明涉及一种光盘记录介质特性的测试装置，属材料的物化性能测试技术领域。

对于可擦写和写一次类型的光盘，用户可以自己把数据写到光盘上。这些数据存储于光盘中的记录介质层中，因此该记录介质的特性，直接影响到光盘的性能。如果记录介质的特性很差，则有可能使用户写入的数据不能正确读出而造成数据丢失。因此在记录介质的研制过程中，必须对有关性能进行测试，测试的性能包括：1)记录介质层反射率的均匀性；2)写入或擦除前后的读出信号反差；3)记录介质写、读、擦激光功率及脉宽的测定和优选；4)某点的写擦循环寿命等。然后根据测试结果对记录介质的成份和结构进行改进。

测试介质特性的基本原理是，把一定功率的激光聚焦于测试样片(盘)的记录介质层某点，测定其反射回的光强从而得到该点反射率；接着可以发出一定脉宽、一定功率的激光脉冲，用于写入或擦除，然后再次测定该点反射率。

测试装置中激光束正确聚焦是实现读出写入及擦除的必要前提，即光学头必须将激光准确聚焦在测试样片的记录介质表面。聚焦误差检测的线性范围约25μm，即样片记录面应该落于这一范围内才能启动聚焦闭环控制系统，正确实现聚焦和测试。这就需要线性区自动预搜索，即在光学头聚焦线圈的驱动电路中加偏置电压，促使光学头相对样片上下运动，直至样片记录面落于聚焦误差检测的线性区。已有技术中，用数字伺服芯片进行预搜索的过程是：在激励光学头相对盘片作上下运动的过程中，首先探测反射光和信号(见图4)是否达到一定幅值，满足此条件后，接着探测聚焦误差信号是否达到一定幅值，该条件进一步满足后，最后第三步探测聚焦误差信号的过零点(图4中的C点)，于此点切入聚焦闭环控制。上述测试技术的缺点是整个测试装置比较复杂，用简单的通用集成芯片电路几乎不能实现，需采用复杂的专用DSP系统。

本发明的目的是设计一种光盘记录介质特性的测试装置，改进已有技术结构中的预搜索结构，使用通用芯片实现预搜索，以简化测试装置，降低设备成本。

本发明设计的光盘记录介质特性的测试装置，包括物镜及力矩器、λ/4波片，偏振分束镜、准直整形单元、激光器、恒功率控制、脉宽发生、功率发生、聚焦单元、信号探测器、信号处理、聚焦预搜索及控制。恒功率控制使激光器发出一定功率的激光，激光器发出的发散激光束经＂准直整形单元＂作用成为圆形平行光束，遇偏振分束镜后，一个偏振方向的光透射，经λ/4波片后由物镜聚焦至样片，由样片反射回的激光经过物镜，再次通过λ/4波片，偏振方向总共偏转90°，遇偏振分束镜反射，经聚焦单元作用由信号探测器探测其光强及聚焦误差，聚焦预搜索及控制完成聚焦自动预搜后切入聚焦闭环控制，并保持聚焦状态，脉宽发生和功率发生产生一定脉宽和功率的激光脉冲实现写入或擦除。聚焦预搜索及控制由信号生成、判别比较、比例积分微分校正、电子开关、搜索驱动、功率驱动组成，样片记录面和聚焦点位置的差值由信号探测器检测并经信号生成电路处理得到聚焦误差电信号，输入比例积分微分校正，同时作判别比较，若未达到设定阈值，则判别比较输出信号控制电子开关断开，并控制搜索驱动信号生成电路驱动力矩器带动物镜搜索盘片，若达到设定阈值，则控制搜索驱动信号生成电路停止搜索，接通电子开关，比例积分微分校正输出信号作用于力矩器，完成聚焦自动预搜索。

本发明设计的光盘记录介质特性的测试装置，由于准线性区光盘聚焦自动预搜索机制是单一阈值判别，用一比较器即可完成，所以用简单的通用集成芯片电路就可以实现对光盘记录介质特性的测试，降低了测试装置总体制造成本，而且测试操作方便，测试技术易于掌握。

附图说明：

图1是本发明设计的测试装置的结构示意图。

图2和图3是测试装置电路图。

图4是聚焦误差信号和反射光和信号关系图。

图5是准线性区聚焦预搜索及控制系统原理框图。

图6和图7是准线性区聚焦预搜索电路图。

下面结合附图，详细介绍本发明的内容。

图1中，1是被测样片，2是物镜，3是力矩器，4是λ/4波片，5是信号探测器，6是偏振分束镜，7是激光器，恒功率控制使激光器发出一定功率的激光，聚焦预搜索及控制完成聚焦自动预搜后切入聚焦闭环控制，并保持聚焦状态，激光器发出的发散激光束经＂准直整形单元＂作用成为圆形平行光束，遇偏振分束镜后，一个偏振方向的光透射，经λ/4波片由物镜聚焦至样片，由样片反射回的激光经过物镜，再通过λ/4波片，偏振方向总共偏转90°，遇偏振分束镜反射，经聚焦单元作用由信号探测器探测其光强及聚焦误差，基本测试过程如下：

1)首先由＂恒功率控制＂根据功率探测器探测得到的激光功率大小，反馈控制激光器发出一定功率的激光。