[发明专利]模拟式双光束光电检测方法与装置无效
申请号: | 97113743.9 | 申请日: | 1997-07-03 |
公开(公告)号: | CN1204765A | 公开(公告)日: | 1999-01-13 |
发明(设计)人: | 刘文启 | 申请(专利权)人: | 维伦科技股份有限公司 |
主分类号: | G01D3/028 | 分类号: | G01D3/028;G01B11/04 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 孙敬国 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种模拟式双光束光电检测方法及此类的传感器,尤指用于检测长带状材料上的一长条纹标记是否对准。其利用二道单色光束投射在该标记两侧形成二个光点,由光点反射光量受到标记吸收而减少的程度可以算出偏离的方向及偏离距离,以将该带状材料导正。为减少装置的空间,只用单个光电二极管接收二光点的反射光。因此二道单色光束的光脉冲交替发出,在时间上互相错开以免互相干扰。二光点的信号比较是取一定数目的脉冲积分值相比较,为此,该装置有二个积分器。 | ||
搜索关键词: | 模拟 光束 光电 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于对一条沿一方向(Y)进送的无端长形工作物(H)的横向偏移量(ΔX)检测的方法,其中利用一光电装置检测该工作物的一边缘或边缘附近的一条沿(Y)方向延伸的条纹标记(M),其特征在于:利用二个相间隔的发光元件(E1)(E2)产生二道单色光束到该边缘或条纹标记之上或附近,在工作物上形成二个光点(S1)(S2),二光点沿工作物的横向(X)排列,并利用一接收器(R)接收来自该二光点(S1)(S2)反射的光,由该二光点(S1)(S2)与条纹标记(M)重合造成的亮度减少程度而得到对应的横向偏移量(ΔX)并依此将该工作物导正。
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