[发明专利]半导体基片的制作方法无效
| 申请号: | 97105478.9 | 申请日: | 1992-02-15 | 
| 公开(公告)号: | CN1099698C | 公开(公告)日: | 2003-01-22 | 
| 发明(设计)人: | 坂口清文;米原隆夫;佐藤信彦 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 | 
| 主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L21/306 | 
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 | 
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| 摘要: | 本发明是关于多孔硅腐蚀液,使用该腐蚀液的腐蚀方法以及使用该腐蚀液制作半导体基片的方法,其优点在于,提供不给半导体工艺带来不良影响、不腐蚀非多孔硅、并能高效率、均匀地对多孔硅进行化学腐蚀的腐蚀液,该腐蚀液可以是氢氟酸;制作半导体基片的制造方法包括如下工序形成具有非多孔硅单晶层和多孔硅层的衬底,将有绝缘性材料表面的衬底接合在该单晶层的表面上,用浸入氢氟酸的方法腐蚀除去多孔硅层。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 制作方法 | ||
【主权项】:
                1.一种制备半导体基片的方法,包括下列步骤:提供一具有一多孔单晶硅层和一非多孔单晶硅层的第一衬底;将第一衬底粘结到一第二衬底上,其间夹有一绝缘层,粘结时把非多孔单晶硅层置于要制备的多层结构的内侧;以及用一腐蚀液腐蚀多孔单晶硅层,该腐蚀液由一包括氢氟酸以及醇和双氧水中的至少一种的溶液构成,或由一包括缓冲氢氟酸以及醇和双氧水中至少一种的溶液构成,以从所述多层结构上除去所述多孔单晶硅层。
            
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                    H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
                
            H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





