[发明专利]用二极管激光器对气体中杂质量进行分析的方法和仪器

摘要

一种分析一气体试样中至少一种杂质含量的方法，通过测量所检测杂质对二极管激光器发出光束的吸收能力从而分析出来杂质含量，所述光束分离成至少两个分支，一个称为测量光束，它聚焦于测量用光探测器之前先穿过多通道容器中的气体试样；另一分支称为参考光束，它不经过气体试样直接聚焦在一参考光探测器上，此方法中气体试样的压力至少等于大气压以及采用了对二极管输入电流进行调制的技术，调制函数至少包括一指数型函数。

主权项

1.一种利用调谐二极管激光器(1)来对一气体试样中至少一种杂质含量进行分析的方法，在此方法中，要测量出所检测杂质对二极管发出光束的吸收能力，二极管输入电流包括一恒定分量和一变化分量从而使其能对所发射的波长进行调制，这是为了能描绘出所述杂质的至少一条吸收谱线的全部或部分形状。二极管发出的光束至少分离成两个分支光束，其中之一称为测量光束(3)，它沿测量光路直接射入所要分析的气体试样，它在聚焦于一测量用光探测器(6)之前要穿过一多通道容器(5)；另一分支光束，称为参考光束(4)，它沿一参考光路传播并且不经过气体试样而直接聚焦在一参考光探测器(15)上，分别处于二极管与测量用光探测器之间和二极管与参考光探测器之间的测量光路和参考光路，它们在空气中的光程是相等的，其特征在于：所述气体试样的压力至少与大气压力相同，其特征还在于：所采用的调制函数至少包括一指数型函数。