[实用新型]多晶硅膜微压传感器无效

专利信息
申请号: 95239084.1 申请日: 1995-01-23
公开(公告)号: CN2228226Y 公开(公告)日: 1996-05-29
发明(设计)人: 茅盘松 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01L21/00 分类号: G01L21/00
代理公司: 东南大学专利事务所 代理人: 楼高潮,魏学成
地址: 210018*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 多晶硅膜微压传感器可用于低压和低真空系统中测量压力和真空度,采用高阻硅衬底和桥式结构多晶硅膜构成,其真空参考腔由两者在亚真空系统中沉积SiO2层实现真空封接,真空参考腔电容极板分别由衬底的重掺杂层和多晶硅重掺杂构成,其间距采用沉积SiO2层的度决定,控制精度高,具有结构简单、工艺方便、体积小和成本低等优点,不需要进行双面光刻对准和玻璃与硅的键合,便于大规模生产。
搜索关键词: 多晶 硅膜微压 传感器
【主权项】:
1、一种用于低压和低真空系统测量压力和真空度的微压传感器,由衬底、硅膜和真空参考腔构成,其特征在于衬底采用高阻硅材料,硅膜为多晶硅薄膜,下电极采用衬底表面重掺杂层构成,上电极为重掺杂多晶硅构成,真空参考腔采用在亚真空系统中沉积二氧化硅(SiO2)层构成真空封接。
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