[发明专利]辐射探测器无效

专利信息
申请号: 95194576.9 申请日: 1995-08-11
公开(公告)号: CN1079947C 公开(公告)日: 2002-02-27
发明(设计)人: 安德鲁·理德亚德;戴维德·施维斯布里 申请(专利权)人: 4D控制有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G02B6/16
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李德山
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种紫外线辐射探测器,包括一个入射狭隙(18)的切开的石英主体(10),辐射从所述的狭隙散射到弯曲的反射面(20,22)上,所述的弯曲的反射面把作为汇聚光束的辐射反射至衍射光栅(28)上。光栅把所要求的光谱级聚焦在紫外线探测器阵列(24)上。通常聚焦第一级光谱。探测器是可以手持。$#!
搜索关键词: 辐射 探测器
【主权项】:
1.一种辐射探测系统,包括一个在一个面上具有用于接收辐射的入射孔装置(18)的透过辐射的波导(10),一个联接辐射探测装置(24)的第一平面(23),一个接收来自入射孔装置(18)的辐射(36)的弯曲的反射面(20,22),和一个接收来自弯曲的反射面(20,22)的辐射(38)的并具有与之联接的平面的衍射光栅的第二平面(26),按照上述结构,弯曲的反射面(20,22)和平面的衍射光栅(28)聚焦来自入射孔装置(18)的发散的辐射(36,38),其特征在于辐射探测装置(24)是装在与衍射光栅(28)不同的面上,由衍射光栅(28)衍射的辐射(36,38)直接作用在辐射探测装置(24)上,且所要求的光谱带和光谱级聚焦在辐射探测装置(24)上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于4D控制有限公司,未经4D控制有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/95194576.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top