[发明专利]检测多基片电子组件中触点对齐的装置和方法无效
| 申请号： | 94190527.6 | 申请日： | 1994-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN1112796A | 公开（公告）日： | 1995-11-29 |
| 发明（设计）人： | 大卫·A·范耶克;大卫·利昂·邦德 | 申请（专利权）人： | 莫托罗拉公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 陆立英 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 液晶显示组件包括具有第一(205)和第三(701)触点的显示基片(201)和具有第二(206)和第四(702)触点的印刷电路基片(204)。按照第一准则对齐第一(205)和第二(206)触点。按照第二准则对齐第三(701)和第四(702)触点。通路(709)在第三和第四触点之间提供电联接。测量通路(709)的电联接，以指示第三(701)和第四(702)触点按照第二准则的对齐，用第三和第四触点按照第二准则的对齐指示第一和第二触点按照第一准则的对齐。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 多基片 电子 组件 触点 对齐 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.在至少包括具有至少一个第一触点的第一基片和具有至少一个第二触点的第二基片的一个多基片电子组件中，其中按照一个第一准则对齐上述第一和第二触点，一种用于按照第一准则检测第一和第二触点对齐的装置，其特征在于，包括：联接到第一基片上的至少一个第三触点；联接到第二基片上的至少一个第四触点；其中按照比第一准则更严格的第二准则使第三触点与至少第四触点对齐；以及一个在第三触点与至少是第四触点之间提供电联接的通路，其中通过对电联接通路的测量指示出第三触点和至少第四触点按照第二准则的对齐，从而用第三触点和至少第四触点按照第二准则的对齐指示出第一和第二触点按照第一准则的对齐。
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