[发明专利]光扫描装置无效
| 申请号： | 94109425.1 | 申请日： | 1994-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN1033877C | 公开（公告）日： | 1997-01-22 |
| 发明（设计）人： | 村上和则;伊久美智则 | 申请（专利权）人： | 东京电气株式会社 |
| 主分类号： | G02B26/10 | 分类号： | G02B26/10 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 将半导体激光器发射的激光经准直透镜、成像透镜和柱面透镜导向可自由转动的多面反射镜，再经校正透镜沿在付扫描方向可自由移动的被扫描面的主扫描方向扫描。如此配置上述各部件，使它们的光轴中心都位于包含多面反射镜的旋转轴的平面内，且各部件设置在多面反射镜的上方。因此，能相对于主扫描光路的中心轴左右对称地形成光学系统并使半导体激光器不与多面反射镜的主扫描光路干涉，从而能得到小型轻量的、光学特性和生产性都良好的光扫描装置。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 装置 | ||
【主权项】：
1、一种光扫描装置，转动自如的多面反射镜的反射面位于半导体激光发生器的发射光路上，在该半导体激光发生器与该多面反射镜的反射面之间至少装设有准直透镜、成像透镜、折光反射镜和柱面透镜，沿付扫描方向移动自如的被扫描面位于上述多面反射镜的主扫描光路上，其间至少装设有校正透镜，其特征在于上述半导体激光发生器、上述准直透镜、上述柱面透镜、作为上述成像透镜的平凸透像、上述折光反射镜、上述校正透镜等各自的光轴中心都位于包含上述多面反射镜的旋转轴的平面内，上述半导体激光发生器、上述准直透镜和上述柱面透镜都设置在上述多面反射镜的上面的上方。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京电气株式会社，未经东京电气株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/94109425.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
