[发明专利]光扫描装置无效

专利信息
申请号: 94109425.1 申请日: 1994-08-13
公开(公告)号: CN1033877C 公开(公告)日: 1997-01-22
发明(设计)人: 村上和则;伊久美智则 申请(专利权)人: 东京电气株式会社
主分类号: G02B26/10 分类号: G02B26/10
代理公司: 柳沈知识产权律师事务所 代理人: 马莹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 扫描 装置
【权利要求书】:

1、一种光扫描装置,转动自如的多面反射镜的反射面位于半导体激光发生器的发射光路上,在该半导体激光发生器与该多面反射镜的反射面之间至少装设有准直透镜、成像透镜、折光反射镜和柱面透镜,沿付扫描方向移动自如的被扫描面位于上述多面反射镜的主扫描光路上,其间至少装设有校正透镜,其特征在于上述半导体激光发生器、上述准直透镜、上述柱面透镜、作为上述成像透镜的平凸透像、上述折光反射镜、上述校正透镜等各自的光轴中心都位于包含上述多面反射镜的旋转轴的平面内,上述半导体激光发生器、上述准直透镜和上述柱面透镜都设置在上述多面反射镜的上面的上方。

2、按照权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于它还包括:

可旋转自如地轴支承上述多面反射镜的驱动马达;

支承上述驱动马达的平板形的基座;

安装在上述基座上、其上装有上述半导体激光发生器、上述准直透镜、上述柱面透镜、上述折光反射镜和上述校正透镜、并包围着多面反射镜的壳体;

至少一个使上述校正透镜的透过光路偏向上述被扫描面的外部反射镜;

其上装有外部反射镜并安装在上述壳体外面的外部框架。

3、按照权利要求2所述的光扫描装置,其特征在于还包括设置在外部框架上、可自由移位地支承与上述被扫描面直接相对的上述外部反射镜并保持定位的反射镜调整机构。

4、按照权利要求2所述的光扫描装置,其特征在于还包括:设置在上述外部框架上,用以检测标出位置的光传感器;

设置在上述外部框架上的反射镜,它将上述激光偏向沿上述校正透镜的透过光路上设置的上述光传感器的受光部。

5、按照权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于还设置有在与光轴正交的平面上可自由移动地支承上述柱面透镜并将其定位的透镜支承机构。

6、按照权利要求5所述的光扫描装置,其特征在于沿付扫描方向可自由移动地设置上述柱面透镜。

7、按照权利要求5所述的光扫描装置,其特征在于上述柱面透镜可移动自如地设置在沿以光轴为中心的旋转方向上。

8、按照权利要求2所述的光扫描装置,其特征在于在上述壳体上与上述透镜支承机构相连的位置上制作有一开孔。

9、按照权利要求2所述的还设置有安装在上述壳体上的、其上装有上述成像透镜、上述柱面透镜和上述折光反射镜的内部框架。

10、按照权利要求8所述的光扫描装置,其特征在于还在上述内部框架上设置有遮蔽上述激光周围对激光整形用的开孔。

11、按照权利要求2所述的光扫描装置,其特征在于还设置有安装在上述壳体上的光发射单元,此光发射单元上以便于上述激光进行对中调整的方式装设有上述半导体激光发生器和上述准直透镜。

12、按照权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于还包括:

可旋转自如轴支承上述多面反射镜的驱动马达;

支承上述驱动马达的平板形基座;

安装在上述基座上、其上装有上述半导体激光发生器、上述准直透镜、上述柱面透镜、上述折光反射镜和上述校正透镜并包围着着上述多面反射镜的壳体;

至少一个使上述校正透镜的透过光路偏向上述被扫描面的外部反射镜;

安装在上述壳体外面,其上装有上述外部反射镜的外部框架;

设置在上述外部框架上、可自由移位地支承与上述被扫描面直接相对的上述外部反射镜,并保持定位的反射镜调整机构;

安装在上述壳体上、其上装有上述成像透镜、上述柱面透镜和上述折光反射镜的内部框架;

安装在上述壳体上的光发射单元,此光发射单元上以便于上述激光进行对中调整的方式装设有上述半导体激光发生器和上述准直透镜。

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