[发明专利]在包括杂质的纺织材料中测量实体特性的设备和方法

摘要

用于在包括杂质的纺织材料试样中测量实体特性的设备和方法，将纺织材料试样送至处理器，在那里实体被分离且随后被送到传感器系统。特性信号是由代表包括杂质的实体的被检测特性的传感器信号所产生的，计算机分析特性信号以识别代表杂质的信号并将杂质信号按几种杂质类型之一分类。根据特性信号，计算机确定实体长度、直径和速度且还确定代表实体的特性信号的峰值。根据这些测量，杂质被区分为几种杂质类型之一。

主权项

1.用于在至少包括杂质的纺织材料试样中测量实体特性的设备，包括：用于提供纺织材料试样的供料装置；含有入口和出口的处理器，所述处理器入口被定位并可操作地接收来自所述供料装置的纺织试样，所述处理器可操作地用于处理所述试样，将所述试样的实体相互分离，使试样实体互不相关以产生单个实体，并将实体以相互分离的状态送至所述处理器的出口；传感器装置和用于将分离状态的一个所述实体输送到所述传感器装置的输送装置；所述传感器装置是可操作的，以检测包括杂质的一部分实体的至少一个特性，由所述输送装置移动并用以响应所述检测到的特性而产生特性信号；用于接收所述特性信号、分析所述特性信号以便识别代表至少杂质的信号的分析装置；细分析装置，用于分析代表杂质的所述特性信号并进一步分析所述信号，以便相应于几类杂质之一而将所述信号分类。