[发明专利]在包括杂质的纺织材料中测量实体特性的设备和方法无效
| 申请号: | 94101132.1 | 申请日: | 1994-01-11 | 
| 公开(公告)号: | CN1048807C | 公开(公告)日: | 2000-01-26 | 
| 发明(设计)人: | F·M·索夫纳;M·E·加力昂;J·C·包德温;Y·-T·朱 | 申请(专利权)人: | 泽韦格·乌斯特(美国)有限公司 | 
| 主分类号: | G01N33/36 | 分类号: | G01N33/36;D01B1/02 | 
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 董巍,肖掬昌 | 
| 地址: | 美国田*** | 国省代码: | 暂无信息 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 包括 杂质 纺织 材料 测量 实体 特性 设备 方法 | ||
1.用于在至少包括杂质的纺织材料试样中测量实体特性的设备,包括:
用于提供纺织材料试样的供料装置;
含有入口和出口的处理器,所述处理器入口被定位并可操作地接收来自所述供料装置的纺织试样,所述处理器可操作地用于处理所述试样,将所述试样的实体相互分离,使试样实体互不相关以产生单个实体,并将实体以相互分离的状态送至所述处理器的出口;
传感器装置和用于将分离状态的一个所述实体输送到所述传感器装置的输送装置;所述传感器装置是可操作的,以检测包括杂质的一部分实体的至少一个特性,由所述输送装置移动并用以响应所述检测到的特性而产生特性信号;
用于接收所述特性信号、分析所述特性信号以便识别代表至少杂质的信号的分析装置;
细分析装置,用于分析代表杂质的所述特性信号并进一步分析所述信号,以便相应于几类杂质之一而将所述信号分类。
2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于所述分析装置还包括:
用以基于特性信号而确定实体长度的装置;
用于将实体长度与阀值相比较的装置;
部分地基于该长度与阈值相比较的结果按几种类型杂质之一而将实体分类的装置。
3.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述分析装置还包括:
用以基于特性信号而确定实体长度的装置;
用于确定代表了由传感器根据特性信号检测的实体直径特性的直径的装置;
用于确定长度对直径的比值并用于将该比值同阀值相比较的装置;以及
部分地根据该比值与阈值的比较结果而按几种类型的杂质之一而将实体分类的装置。
4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述分析装置还包括:
用于确定代表了由传感器根据特性信号而检测的实体直径特性的直径的装置;
用于将该直径与阈值相比较的装置;以及
部分地根据直径与阈值的比较结果而按几种类型的杂质将实体分类的装置。
5.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述分析装置还包括:
通过分析特性信号,用于确定由所述传感器装置所检测的实体的速度的装置;
用于将该速度与阈值相比较的装置;以及
部分地根据该速度与阈值的比较结果而按几种类型杂质之一将实体分类的装置。
6.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述用以分类的装置是可操作的,以便部分地根据该速度与阈值的比较结果而按树皮杂质或纤维杂质将实体分类。
7.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述用于分类的装置是可操作的,以便部分地根据该速度与阈值的比较结果而按厚度杂质或薄杂质将实体分类。
8.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,用以分类的装置是可操作的,以便部分地根据该速度与阈值的比较结果而按灰尘或纤维碎片而将实体分类。
9.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述分析装置还包括:
用于根据杂质实体的所述特性信号而确定峰值的装置;
用于将所述峰值与阈值相比较的装置;以及
部分地根据该峰值与阈值相比较的结果而按几种杂质类型之一将实体分类的装置。
10.根据权利要求9所述的设备,其特征在于,所述用以分类的装置是可操作的,以便部分地根据峰值与阈值的比较结果而将实体分类为第一和第二组之一,其中第一组由灰尘或纤维碎片组成而第二组由厚杂质或薄杂质组成。
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