[发明专利]用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法无效
| 申请号： | 92114025.8 | 申请日： | 1992-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN1027662C | 公开（公告）日： | 1995-02-15 |
| 发明（设计）人： | 曹更新;程和森;李樟苏 | 申请（专利权）人： | 水利部交通部能源部南京水利科学研究院 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 交通部专利事务所 | 代理人： | 张丽萍,贾宁一 |
| 地址： | 210029 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法，首先在室内制作不同含氢量的标准模块，然后用中子散射法探测装置对这些标准模块表面进行测量，测定出每种含氢量的材料其厚度与热中子计数率的相关曲线，即该种材料的工作曲线，实测时，根据现场测得的热中子计数率，由根据被测材料的含氢量选择的与其相应的工作曲线，即可确定其厚度。它特别适合测量如混凝土或沥青混凝土路面、喷射混凝土护层这种只有一个可测面的材料的厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 中子 辐射 测量 固体 薄层 材料 厚度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法，其特征在于首先制作多个不同含氢量的层状材料的标准模块，然后用含中子源和热中子探测器的中子探测装置对这些标准模块表面进行测量，测定出每种含氢量的材料其厚度与热中子计数率的相关曲线，即该种材料的工作曲线；在现场进行实际测量时，或据材料原有配比或取样分析，确定被测材料的含氢量，再据其含氢量选择与其相应的工作曲线即材料厚度与热中子计数率关系曲线；将上述中子测量装置置于被测材料表面，测定出热中子计数率，此时被测材料下面的垫层如岩石，碎石等，其含氢量要求应接近零；当被测材料与室内标定所用的标准含氢量模块相同和接近时，则据其测定出的热中子计数率按其对应的工作曲线确定其厚度。
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