[发明专利]用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法

权利要求书

1、一种用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法，其特征在于首先制作多个不同含氢量的层状材料的标准模块，然后用含中子源和热中子探测器的中子探测装置对这些标准模块表面进行测量，测定出每种含氢量的材料其厚度与热中子计数率的相关曲线，即该种材料的工作曲线；在现场进行实际测量时，或据材料原有配比或取样分析，确定被测材料的含氢量，再据其含氢量选择与其相应的工作曲线即材料厚度与热中子计数率关系曲线；将上述中子测量装置置于被测材料表面，测定出热中子计数率，此时被测材料下面的垫层如岩石，碎石等，其含氢量要求应接近零；当被测材料与室内标定所用的标准含氯量模块相同和接近时，则据其测定出的热中子计数率按其对应的工作曲线确定其厚度。

2、根据权利要求1所述的一种用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法，其特征在于它所说的标准模块是用模拟材料即聚乙烯薄片与铝片所组成的复合材料制作的，其含氢量由小到大，如制作含氢量为5kg、10kg的模块模拟沥青混凝土，制作含氢量为20kg、25kg、30kg的模块模拟混凝土和喷射混凝土，直接用聚乙烯制作的模块用于测量聚乙烯材料。

3、根据权利要求1或2所述的一种用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法，其特征在于当被测材料含氢量介于二个标准含氢量模块之间时，用插值法确定其厚度。

4、根据权利要求1或2所述的一种用中子辐射测量含氢固体薄层材料厚度的方法，其特征在于当被测材料下面的垫层含氢量不为零时，则首先在室内模拟实际情况进行标定试验，确定在该测量条件下的工作曲线，在此基础上再进行实际测量。