[发明专利]全方位光束检验仪

摘要

本发明属于光学仪器领域的一种全方位光束检验仪。用于光学与激光工程，光学与激光实验中光束准直与质量检测。该检验仪由有入射光阑屏构成固定部分和带有楔角的剪切干涉平板可绕入射光束光轴转动360°以及绕平板中心法线转动360°和含有固定和转动两块分划板的干涉图形观测屏所构成的转动部分两大部分组成。本发明的检验仪具有任意方位光束的剪切干涉，检测灵敏度高，可直接给出定量结果，结构简单，造价低廉，易于推广使用的优点。

主权项

1.一种用于检测光束质量的全方位光束检验仪，含有入射光阑屏，剪切干涉板是带有楔角B的平板和干涉图形观测屏，其特征在于由入射光阑屏构成的固定部分(7)和有两种旋转方向的剪切干涉板(9)与有固定和转动分划板组成的干涉图形观测屏的转动部分(8)两大部分构成，被检测系统在ai方位角上的离焦量Δfai符合公式：Δfai＝1/SnBf2tgα(1)(1)式中：f—被检测系统的焦距n—平板材料的折射率B—平板的楔角α—干涉条纹与参考标线的倾角S—光束剪切量角标ai表示被检测系统在ai方位角上的角度值。(1)式中：S＝h/n2-1(2)(2)式中：h—为平板的厚度；被测光束在ai方位角上的发散角θai表示为：θai＝1/SDnBtgα(3)(3)式中：D—为被测光来口径；被测光束在ai方位角上的波面曲率半径Rai表示为：Rai＝f2/Δfai(4)或Rai＝D/θai(5)被测光束在ai方位角上的象散为：ST＝|1/Rai－1/R(ai＋90°)|(6)(6)式中：i＝0，1，2，…