[发明专利]全方位光束检验仪

权利要求书

1.一种用于检测光束质量的全方位光束检验仪，含有入射光阑屏，剪切干涉板是带有楔角B的平板和干涉图形观测屏，其特征在于由入射光阑屏构成的固定部分(7)和有两种旋转方向的剪切干涉板(9)与有固定和转动分划板组成的干涉图形观测屏的转动部分(8)两大部分构成，

被检测系统在ai方位角上的离焦量Δf_ai符合公式：

    Δf_ai＝1/SnBf²tgα    (1)

(1)式中：f—被检测系统的焦距

         n—平板材料的折射率

         B—平板的楔角

        α—干涉条纹与参考标线的倾角

         S—光束剪切量

角标ai表示被检测系统在ai方位角上的角度值。

(1)式中：

      S＝h/n²-1    (2)

(2)式中：h—为平板的厚度；

被测光束在ai方位角上的发散角θ_ai表示为：

     θ_ai＝1/SD_nBtgα(3)

(3)式中：D—为被测光来口径；

被测光束在ai方位角上的波面曲率半径R_ai表示为：

     R_ai＝f²/Δf^ai(4)

     或R_ai＝D/θ_ai(5)

被测光束在ai方位角上的象散为：

ST＝|1/R_ai－1/R_(ai＋90°)|    (6)

(6)式中：i＝0，1，2，…

2.根据权利要求1所述的一种全方位光束检验仪，其特征在于平板一种旋转方向是绕平板对着入射光束表面的中心法线旋转360°，另一种旋转方向是绕入射光束的光轴旋转360°。

3.根据权利要求1、2所述的一种全方位光束检验仪，其特征在于干涉图形观测屏是由固定分划板和可转动分划板两部分构成，并整体干涉图形观测屏绕入射光束的光轴随平板一起转动。