[发明专利]测试和故障检查用的存贮器仿真方法和系统无效
| 申请号： | 88108496.4 | 申请日： | 1988-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN1018097B | 公开（公告）日： | 1992-09-02 |
| 发明（设计）人： | 马歇尔·H·史各特;罗伯特·E·卡克勒;约翰·D·波尔斯特拉;安东尼·R·万内利;W·道格拉斯·黑兹尔敦 | 申请（专利权）人： | 约翰弗兰克制造公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 马铁良,匡少波 |
| 地址： | 美国华*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种对基于微处理器的电子系统进行测试和故障检查的方法和系统，它采用了存贮器仿真技术以及其它技术，以提供完全的功能测试和缺陷定位。它在感兴趣的总线周期期间，在预先选择的时间位置上可以产生良好分辨率的同步脉冲，以使完整的故障寻找缺陷隔离容易。其它特点包括用存贮器仿真技术的总线测试，用ROM的片选线来编码测试结果和在一个核心失效的系统中保持目标微处理器功能的技术。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 故障 检查 存贮器 仿真 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种对具有微处理器和存贮器以及用数据总线和地址总线将它们相互连接的设备进行测试的方法，其特征在于，其步骤包括：以仿真存贮器代替上述设备的存贮器；在上述存贮器仿真装置中放进指令，并使上述微处理器执行上述指令；评价上述微处理器对所述指令的响应，并检测缺陷；当上述微处理器执行所述指令时，在预定的总线周期期间，在选择的时间位置上产生同步脉冲。
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