[发明专利]测试和故障检查用的存贮器仿真方法和系统无效
申请号: | 88108496.4 | 申请日: | 1988-12-12 |
公开(公告)号: | CN1018097B | 公开(公告)日: | 1992-09-02 |
发明(设计)人: | 马歇尔·H·史各特;罗伯特·E·卡克勒;约翰·D·波尔斯特拉;安东尼·R·万内利;W·道格拉斯·黑兹尔敦 | 申请(专利权)人: | 约翰弗兰克制造公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 马铁良,匡少波 |
地址: | 美国华*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 故障 检查 存贮器 仿真 方法 系统 | ||
1、一种对具有微处理器和存贮器以及用数据总线和地址总线将它们相互连接的设备进行测试的方法,其特征在于,其步骤包括:
以仿真存贮器代替上述设备的存贮器;
在上述存贮器仿真装置中放进指令,并使上述微处理器执行上述指令;
评价上述微处理器对所述指令的响应,并检测缺陷;
当上述微处理器执行所述指令时,在预定的总线周期期间,在选择的时间位置上产生同步脉冲。
2、根据权利要求1的方法,其特征在于:上述设备进一步包括连到上述地址总线的地址译码器以及连接上述地址译码器和上述存贮器的片选线,还包括由上述微处理器访问译码地址的步骤,以便在该片选线上产生测试结果。
3、根据权利要求1的方法,其特征在于:评价响应的上述步骤包括存贮来自上述设备的总线周期序列和评价每个总线周期,以便确定缺陷。
4、根据权利要求3的方法,其特征在于:上述评价响应的步骤进一步包括将上述微处理器访问的地址与预定的地址比较及把测试结果与一组预定的响应比较,使得若出现取指的流水线操作,则两种比较的失败表示一个缺陷。
5、一种对具有微处理器和ROM以及用数据总线和地址总线将它们相互连接的设备进行测试的方法,上述设备还包括连到上述地址总线的地址译码器和与上述地址译码器及上述ROM连接的片选线。此方法包括如下步骤:
用仿真存贮器替代上述的ROM;
把指令放在上述存贮器仿真装置中,并使上述微处理器执行上述指令,这样由在上述片选线上的地址译码器提供测试结果;
检索从上述片选线来的测试结果。
6、根据权利要求5的方法进一步包括当上述微处理器执行上述指令时,在预定的总线周期期间,在选定的时间位置上产生同步脉冲的步骤。
7、对具有微处理器和存贮器以及将它们用数据、地址总线相互连接的设备进行测试的装置,其特征在于,此装置包括:
用仿真存贮器代替上述设备的存贮器的装置;
把指令放在上述仿真存贮器中并使上述微处理器执行上述指令的控制装置;
连接到上述控制装置和上述仿真存贮器的评价装置用以对从上述微处理器来的上述指令的响应与一组预定的响应作比较;
连接到所述控制装置和该微处理器的装置,用以产生与微处理器总线周期同步的信号。
8、根据权利要求7中的装置,其特征在于:上述的信号产生装置包括响应于上述微处理机提供的定时控制信号的可编程的总线周期状态装置。
9、根据权利要求8的装置进一步包括,响应于上述总线周期状态装置来的输出信号产生同步脉冲的装置,其特征在于:上述同步脉冲在上述总线周期期间的预先选定的时间上产生。
10、根据权利要求9的装置进一步包括一个寻找上述设备故障的探针,其特征在于:在上述探针中的激励和响应信号与上述同步脉冲同步。
11、根据权利要求7中的装置,其特征在于所述的评价装置包含将测试结果与预定的总线周期同步的装置。
12、根据权利要求7中的装置,其特征在于:所述的评价装置进一步包含一个响应于至少把部分测试结果与所述控制装置提供的预定值进行比较,从而产生一个输出信号的比较器,以及一个响应于该总线周期的同步信号和该比较器的输出信号,以产生测试结果同步信号的状态装置。
13、根据权利要求12的装置进一步包含用来存贮由上述测试结果同步信号确定的某一时刻测试结果的装置。
14、根据权利要求13中的装置,其特征在于:上述的存贮测试结果的装置是一个锁存器。
15、根据权利要求13中的装置,其特征在于:存贮上述的测试结果的装置是一个RAM。
16、根据权利要求7中的装置,其特征在于:所述的控制装置包括一个基于处理器的系统。
17、根据权利要求7中的装置,其特征在于:所述仿真存贮器包含一对RAM体和在测试期间转换上述RAM体的装置转换方式是微处理器连续不断地执行,仿佛整个测试期间只存在一个RAM。
18、根据权利要求17中的装置,其特征在于:所述的转换装置包括一个可转换的逻辑电路,响应于从上述的控制装置来的控制信号和上述总线周期同步信号的可转换逻辑电路。
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