[发明专利]用于测试集成电路元件的电路结构

摘要

用于测试电路元件的电路结构，该电路元件作为集成电路形成于一块公共基片上，并可经基片上的公共供电和输入线操作，该电路结构的测试电路和开关单元作为集成电路形成在同一基片上，开关单元可由测试电路控制并插在连接测试电路和电路元件的连线中，测试电路装有传递测试结果的输出电路，在测试电路元件时，测试电路除电源线外没其它连线，自测试是利用测试电路的中央单元比较实际和期望值来判别元件合格与否，并顺时地确定其功能度。

主权项

1、用于测试集成电路元件的电路结构，该结构把测试电路和开关单元以集成电路的形式，一起形成在一块公共基片上，并可通过基片上的公共供电线来操作，开关单元由测试电路控制，该测试电路包括用于输出测试数据的输出电路，特征在于：测试电路(3)被安排成用于把测量中获得的实际值与至少一个要测试的参数的期望值相比较，测试电路包括一个中央单元(4)，和程序存贮器(5)，所述中央单元被配置成用来测试多个电路元件(2)，并就至少一个测试参数而言，用来判断电路元件的合格和不合格，以及按时间顺序地判定电路元件的各自的功能度；所述输出电路包括，结果存贮器(6)和显示器件(7)。