[发明专利]用于测试集成电路元件的电路结构

权利要求书

1、用于测试集成电路元件的电路结构，该结构把测试电路和开关单元以集成电路的形式，一起形成在一块公共基片上，并可通过基片上的公共供电线来操作，开关单元由测试电路控制，该测试电路包括用于输出测试数据的输出电路，特征在于：测试电路(3)被安排成用于把测量中获得的实际值与至少一个要测试的参数的期望值相比较，测试电路包括一个中央单元(4)，和程序存贮器(5)，所述中央单元被配置成用来测试多个电路元件(2)，并就至少一个测试参数而言，用来判断电路元件的合格和不合格，以及按时间顺序地判定电路元件的各自的功能度；所述输出电路包括，结果存贮器(6)和显示器件(7)。

2、根据权利要求1的电路结构，特征在于测试电路（3）中的中央单元（4）包括微处理器。

3、根据权利要求1或2的电路结构，特征在于测试电路（3）被设计成自测试型的，并包含能根据自测试结果被转换接通的等同电路组。

4、根据权利要求1或2的电路结构，特征在于每个电路元件（2）的电源能由测试电路（3）接通和关断。

5、根据权利要求1或2的电路结构，特征在于各个电路元件（2）经过熔丝（16）连接到电源线，该熔丝在相关的电路元件内部短路时熔断，或可通过由测试电路（3）操作的晶体管（17）加上电源电压而熔断。

6、根据权利要求1或2的电路结构，特征在于所述结果存贮器（6）的存贮位置分配给各个电路元件（2），用来贮存有关电路元件的功能度方面的信息。

7、根据权利要求6的电路结构，特征在于所述结果存贮器（6）是非易失型存贮器。

8、根据权利要求1或2的电路结构，特征在于所述结果存贮器（6）能通过基片（1）的外部连线（8）读出。

9、根据权利要求1或2的电路结构，特征在于所述显示器件（7）可见地显示测试结果的显示器件（7）。

10、根据权利要求9的电路结构，特征在于所述显示器件（7）包括用于每个电路元件（2）的至少一个显示元件，所述显示元件被安置于每个有关电路元件（2）的附近或单独的显示区域内。

11、根据权利要求10的电路结构，特征在于所述显示元件是发光二极管或易熔连线，该熔丝的熔断状态能用肉眼辨别。

12、根据权利要求11的电路结构，其特征在于所述显示器件（7）根据结果存贮器（6）的内容进行工作或其本身包含用于某些测试结果的存贮单元。

13、根据权利要求1或2的电路结构，特征在于所述开关单元（10）和/或连接所述开关单元与测试电路的连线（9，11）被形成于基片（1）的一个区域中，当基片被切割后，该区域就完全脱离了。

14、根据权利要求1或2的电路结构，特征在于每个所述开关单元（10）包括一个存贮器元件（14）和至少一个被控的开关元件（15），从而把连线（9，11）中的一根转接到相应的电路元件（2）上。

15、根据权利要求14的电路结构，特征在于所述存贮器元件（14）被连成一个链式电路，该链式电路中存贮器的接通状态能被移位。

16、根据权利要求1或2的电路结构，特征在于由所述测试电路（3）的测试结果所断定不合格的电路元件（2）的至少一根公共电源线和/或连线（9，11）能被来自测试电路的控制信号暂时或永久地关断。