[其他]不需校正的颗粒分析计无效
| 申请号： | 85205497 | 申请日： | 1985-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN85205497U | 公开（公告）日： | 1986-09-03 |
| 发明（设计）人： | 姚长华 | 申请（专利权）人： | 姚长华 |
| 主分类号： | G01N15/04 | 分类号： | G01N15/04;G01N9/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种不需校正的颗粒分析计装置。它是由最小刻度值为0.5(甲种)或最小刻度值为0.2(乙种)并在分度表上标有土粒有效沉降距离，构成双刻度的比重计与固定直径的专用量简配套组合成的。使用时不需刻度修正值，并能直接读得土粒有效沉降距离。有内附温度计的比重计还能同时指示温度和温度补正值。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 颗粒 分析 | ||
【主权项】：
1、不需校正的颗粒分析计，特别是土颗粒分析计，其特征是：颗粒分析比重计的分度表刻度甲种为0.5，乙种为0.2，在分度表上同时刻有土粒有效沉降距离，它与专用量筒组成配套的颗粒分析计装置，内附温度计上同时标有温度补正值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于姚长华，未经姚长华许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/85205497/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：四腿可变位式双折折面桌
- 下一篇：新型反射式双色液位计
