[其他]不需校正的颗粒分析计无效
| 申请号： | 85205497 | 申请日： | 1985-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN85205497U | 公开（公告）日： | 1986-09-03 |
| 发明（设计）人： | 姚长华 | 申请（专利权）人： | 姚长华 |
| 主分类号： | G01N15/04 | 分类号： | G01N15/04;G01N9/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 校正 颗粒 分析 | ||
【权利要求书】：
1、不需校正的颗粒分析计，特别是土颗粒分析计，其特征是：颗粒分析比重计的分度表刻度甲种为0.5，乙种为0.2，在分度表上同时刻有土粒有效沉降距离，它与专用量筒组成配套的颗粒分析计装置，内附温度计上同时标有温度补正值。
2、根据权利要求1所述的装置，其特征是：每10个刻度标有有效沉降距离值，形成双刻度。
3、根据权利要求1所述的装置，其特征是：配套的专用量筒为1000ml，具有固定的直径。
4、根据权利要求1、3所述的装置，其特征是：专用量筒的直径为6cm。
5、根据权利要求1所述的装置，其特征是：内附温度计的感温泡在比重计干管下端，温度计分度表在干管上部。
6、根据权利要求1、5所述的装置，其特征是：温度计分度表一边为温度刻度，最小刻度值0.5℃，另一边为对应的温度补正值。
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