[实用新型]光学件整盘尺寸最高点测量仪有效

专利信息
申请号: 202321141351.5 申请日: 2023-05-12
公开(公告)号: CN219675015U 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 颜林;张毅 申请(专利权)人: 上海翔野光学科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/06
代理公司: 郑州坤博同创知识产权代理有限公司 41221 代理人: 汪二照
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 实用新型公开了光学件整盘尺寸最高点测量仪,涉及光学测量技术领域,包括:桌面机构,所述桌面机构由多个零件组件合成的;所述光栅机构固定安装在桌面机构的上方,所述光栅机构包括读数器,所述读数器的上方固定安装有电缆,所述电缆的一端固定连接有尺体;所述吊锤机构活动安装在桌面机构的上方,所述桌面机构的上方固定安装有放置平板。该新型光学件整盘尺寸最高点测量仪,基准板具有一定的高度范围,并且基准板对下方工件进行尺寸最高点测量时,会在范围内进行快速简单的精准定位测量且判定,从而实现带动测量仪对光学整盘进行测量使用,便于操作控制,同时划定测量时最高点的位置,精确测量范围,避免超出范围边界。
搜索关键词: 光学 件整盘 尺寸 最高点 测量仪
【主权项】:
暂无信息
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