[实用新型]一种芯片测试装置与芯片测试系统有效
| 申请号： | 202320202366.1 | 申请日： | 2023-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN219266464U | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 邓仟;黄增强;李健健 | 申请（专利权）人： | 杭州鸿钧微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 杜杨 |
| 地址： | 311200 浙江省杭州市萧山*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了一种芯片测试装置与芯片测试系统，涉及芯片测试技术领域，芯片测试装置包括：测试台、连接件；连接件与测试台电连接以及转接板；转接板与连接件电连接，测试板，测试板与转接板电连接，测试板用于连接待测芯片，转接板用于将待测芯片的引脚转换为测试台对应的引脚。本申请提供的芯片测试装置与芯片测试系统具有提升了芯片测试的兼容性，降低了测试成本的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
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