[发明专利]设备测试方法、装置、存储介质及电子装置在审
| 申请号： | 202310609628.0 | 申请日： | 2023-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN116627740A | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 时国美 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 刘晓燕 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种设备测试方法、装置、存储介质及电子装置，其中，该方法包括：在对多个设备进行测试时，在多个设备中确定目标设备；按照第一测试顺序对目标设备进行测试，其中，目标设备运行第二测试指令的时长大于目标设备运行第一测试指令的时长；按照第二测试顺序对多个设备中除目标设备之外的其他设备进行测试，其中，第二测试顺序包括：在目标设备运行第二测试指令之后运行第一测试指令；在目标设备运行第一测试指令失败的情况下，控制其他设备在运行第二测试指令之后停止运行第一测试指令。通过本发明实施例，解决了相关技术中存在的多个设备在测试时会出现设备批量报错的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 测试 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
【主权项】：
暂无信息
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