[发明专利]设备测试方法、装置、存储介质及电子装置

说明书

本发明实施例提供了一种设备测试方法、装置、存储介质及电子装置，其中，该方法包括：在对多个设备进行测试时，在多个设备中确定目标设备；按照第一测试顺序对目标设备进行测试，其中，目标设备运行第二测试指令的时长大于目标设备运行第一测试指令的时长；按照第二测试顺序对多个设备中除目标设备之外的其他设备进行测试，其中，第二测试顺序包括：在目标设备运行第二测试指令之后运行第一测试指令；在目标设备运行第一测试指令失败的情况下，控制其他设备在运行第二测试指令之后停止运行第一测试指令。通过本发明实施例，解决了相关技术中存在的多个设备在测试时会出现设备批量报错的问题。

技术领域

本发明实施例涉及计算机领域，具体而言，涉及一种设备测试方法、装置、存储介质及电子装置。

背景技术

在服务器设备的生产过程中，客户会加入自己的诊断程序，及客户定制诊断程序，主要进行设备的配置检查和性能压力测试，来确认生产的服务器符合客户的预期。其中客户定制诊断程序的配置检查部分对服务器的各种配置细节要求比较严苛。往往在使用诊断程序对服务器进行配置检查时，由于程序配置检查文件的不准确、不完备，会造成整个诊断程序运行失败，影响诊断效率，从而影响设备的产能和出货进度。所以在客户定制诊断程序投入使用之前需要对诊断程序的配置检查部分进行核对和筛查，以确保其准确性和完备性，目前往往采用人工比对筛查的方式。但是有些程序配置检查文件的不准确只有在设备实际运行客户定制诊断程序时才会出现，例如，代码逻辑问题导致硬盘信息读不出来或者某个工具在工厂使用的系统下因缺少库文件无法使用。在对多个设备进行测试时均按照相同的测试顺序进行测试，如果运行到客户定制诊断程序时出现问题，会造成设备批量报错，从而降低了测试效率和产能。因此，相关技术中存在多个设备在测试时会出现设备批量报错的问题。

针对相关技术中存在的多个设备在测试时会出现设备批量报错的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种设备测试方法、装置、存储介质及电子装置，以至少解决相关技术中存在的多个设备在测试时会出现设备批量报错的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种设备测试方法，包括：在对多个设备进行测试时，在上述多个设备中确定目标设备；按照第一测试顺序对上述目标设备进行测试，其中，上述第一测试顺序包括：在上述目标设备运行第一测试指令之后运行第二测试指令，上述目标设备运行上述第二测试指令的时长大于上述目标设备运行上述第一测试指令的时长；按照第二测试顺序对上述多个设备中除上述目标设备之外的其他设备进行测试，其中，上述第二测试顺序包括：在上述目标设备运行上述第二测试指令之后运行上述第一测试指令；在上述目标设备运行上述第一测试指令失败的情况下，控制上述其他设备在运行上述第二测试指令之后停止运行上述第一测试指令。

在一个示例性实施例中，上述按照第一测试顺序对上述目标设备进行测试，包括：控制上述目标设备运行上述第一测试指令；在上述目标设备运行上述第一测试指令失败的情况下，控制上述目标设备运行上述第二测试指令；在上述目标设备运行上述第一测试指令成功的情况下，控制上述目标设备运行上述第二测试指令。

在一个示例性实施例中，在上述目标设备运行上述第一测试指令失败的情况下，控制上述目标设备运行上述第二测试指令之后，上述方法还包括：获取第三测试指令，其中，上述第三测试指令是对上述第一测试指令进行修改后得到的测试指令；控制上述目标设备运行上述第三测试指令。

在一个示例性实施例中，上述按照第一测试顺序对上述目标设备进行测试，还包括：控制上述目标设备运行上述第一测试指令；在上述目标设备运行上述第一测试指令失败的情况下，获取第三测试指令，并控制上述目标设备运行第三测试指令，其中，上述第三测试指令是通过对上述第一测试指令修改得到的；在上述目标设备运行上述第三测试指令成功的情况下，控制上述目标设备运行上述第二测试指令。