[发明专利]存储器测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202310580430.4 | 申请日： | 2023-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN116665760A | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 任开元;林晓敏;魏文;蔡恩静;高金德 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 201314*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器测试系统及测试方法，存储器测试系统包括向量发生器、测试板和存储器测试仪，向量发生器用于生成至少一个测试向量，并将测试向量发送至测试板，测试板用于接收测试向量，并将测试向量发送至存储器测试仪；存储器测试仪用于执行测试向量以对待测存储器进行相应的测试。即，向量发生器与存储器测试仪通过测试板来实现联动，由此可以增加所生成的测试向量的深度和行数，从而生成待测存储器所需的测试向量，进而满足待测存储器的测试需求。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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