[发明专利]存储器测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种存储器测试系统，其特征在于，包括向量发生器、测试板和存储器测试仪：

所述向量发生器用于生成至少一个测试向量，并将所述测试向量发送至测试板；

所述测试板用于接收所述测试向量，并将所述测试向量发送至存储器测试仪；

所述存储器测试仪用于执行所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成与当前的所述测试向量相应的测试后通过所述测试板向所述向量发生器发送测试完成信号。

2.如权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述向量发生器还用于向所述存储器测试仪发送触发信号，所述触发信号用于触发所述存储器测试仪来执行所述测试向量。

3.如权利要求2所述的存储器测试系统，其特征在于，所述向量发生器通过所述测试板向所述存储器测试仪发送触发信号。

4.如权利要求3所述的存储器测试系统，其特征在于，所述触发信号包括执行完所述测试向量所需的周期数、时间、电压、频率和待测存储器中的预定管脚的电位。

5.如权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，对所述待测存储器进行一个测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，测试结束；

对所述待测存储器进行两个以上的测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，向所述测试板发送另一个测试向量和触发信号，测试板接收到向量发生器发送的另一个所述测试向量和触发信号后，将另一个所述测试向量和触发信号发送至存储器测试仪，以通过所述触发信号触发存储器测试执行另一个所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成另一个所述测试向量相应的测试后向测试板发送测试完成信号，测试板接收所述测试完成信号并将所述测试完成信号提供给向量发生器，如此循环，直至待测存储器的所有测试向量测试结束。

6.如权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述向量发生器包括第一公用测试通道，所述存储器测试包括第二共用测试通道，所述测试板包括共用测试通道接口，所述第一公用测试通道通过所述测试通道接口与所述第二共用测试通道连接。

7.一种存储器测试方法，其特征在于，包括：

通过向量发生器生成至少一个测试向量，并将所述测试向量发送至测试板；

接收所述测试向量，并通过所述测试板将所述测试向量发送至存储器测试仪；以及，

通过所述存储器测试仪执行所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成与当前的所述测试向量相应的测试后通过所述测试板向所述向量发生器发送测试完成信号。

8.如权利要求7所述的存储器测试方法，其特征在于，在将所述测试向量发送至测试板时，所述存储器测试方法还包括:向所述存储器测试仪发送触发信号，所述触发信号用于触发所述存储器测试仪来执行所述测试向量。

9.如权利要求8所述的存储器测试方法，其特征在于，所述触发信号包括执行完所述测试向量所需的周期数、时间、电压、频率和待测存储器中的预定管脚的电位。

10.如权利要求7所述的存储器测试方法，其特征在于，对所述待测存储器进行一个测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，测试结束；

对所述待测存储器进行两个以上的测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，向所述测试板发送另一个测试向量和触发信号，测试板接收到向量发生器发送的另一个所述测试向量和触发信号后，将另一个所述测试向量和触发信号发送至存储器测试仪，以通过所述触发信号触发存储器测试仪执行另一个所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成另一个所述测试向量相应的测试后向测试板发送测试完成信号，测试板接收所述测试完成信号并将所述测试完成信号提供给向量发生器，如此循环，直至待测存储器的所有测试向量测试结束。