[发明专利]单目三维目标检测后处理方法、装置和电子设备在审
| 申请号： | 202310452207.1 | 申请日： | 2023-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN116543381A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 刘建伟 | 申请（专利权）人： | 爱芯元智半导体（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06V20/64 | 分类号： | G06V20/64;G06V10/764;G06T7/80;G06T7/50 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 孟洋 |
| 地址： | 201702 上海市青浦区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开提出一种单目三维目标检测后处理方法、装置和电子设备，该方法包括：获取候选检测框的检测输出信息和相机内参，其中，检测输出信息包括：与候选检测框对应的候选类别置信度、像素中心坐标、深度信息、尺寸信息，以及旋转角度，根据相机内参、像素中心坐标、深度信息和尺寸信息，生成与候选检测框对应的二维包络框，根据二维包络框、深度信息和旋转角度，确定多个候选检测框之间的三维重叠度，根据候选类别置信度和像素中心坐标，确定与候选检测框对应的候选质量值，根据候选质量值和三维重叠度，从多个候选检测框中确定目标检测框，由此，可以实现后处理计算过程的解耦，以减少计算开销，有效提升所得目标检测框的准确性和实时性。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 目标 检测 处理 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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