[发明专利]一种芯片验证系统、方法、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202310443162.1 | 申请日： | 2023-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN116167311B | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 权敏辉;李丹;王振 | 申请（专利权）人： | 南京芯驰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308;G06F30/3323;G06F115/02;G06F115/08;G06F115/10 |
| 代理公司： | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人： | 刘欢欢 |
| 地址： | 211899 江苏省南京市江北新区研创园团结路*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种芯片验证系统、方法、设备及存储介质，所述系统包括：验证平台用于确定指令发送条件被触发时，向待验证芯片的中断控制器发送目标验证指令；当待验证芯片监测到验证平台发送的目标验证指令时，根据当前待执行的各个验证指令的优先级，确定是否执行目标验证指令。采用该系统，在待验证芯片主动向验证平台发送仿真信息和控制指令的基础上，还使验证平台主动向待验证芯片发送验证指令，拓宽了验证芯片针对待测试芯片的验证场景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 系统 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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