[发明专利]集成电路测试系统及其测试设备在审
| 申请号： | 202310442486.3 | 申请日： | 2023-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN116540069A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 李长波;龙秀丕;张宇峰;郭江强 | 申请（专利权）人： | 深圳市佰尚电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R19/00;G01R15/04;G01R1/30 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 张小容 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种集成电路测试系统及其测试设备，其中集成电路测试系统包括调控电路、监测电路及主控电路，主控电路分别与监测电路和调控电路连接。本发明中主控电路根据测试参数设置信号生成参数设置值，当参数设置值在预设参数设置范围值内时，将参数设置值输至调控电路以控制其工作，并控制监测电路工作，再将监测信号对应的工作参数与参数设置值进行比较，在工作参数与参数设置值不一致时输出参数重置信号至上位机；当参数设置值未在预设参数设置范围值内时输出参数重置信号至上位机；以通知用户需重置参数，避免因人为输入的测试参数设置指令不合理或者调控电路故障而导致待测集成电路损坏的情况，以降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 系统 及其 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市佰尚电子有限公司，未经深圳市佰尚电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310442486.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：气泡混合轻质填筑材料及填筑土
- 下一篇：针对光刻中光罩热效应的修正方法
