[发明专利]集成电路测试系统及其测试设备

权利要求书

1.一种集成电路测试系统，其特征在于，应用于集成电路测试设备，所述集成电路测试设备包括数据输入器和性能检测电路，所述数据输入器用于接收用户输入的测试参数设置指令并输出相应的测试参数设置信号，所述性能检测电路用于在工作时测试待测集成电路的性能参数，所述集成电路测试系统包括：

调控电路，设于所述集成电路测试设备内，所述调控电路用于在工作时对所述集成电路测试设备的工作参数进行调控；

监测电路，设于所述集成电路测试设备内，所述监测电路用于在工作时监测所述集成电路测试设备的工作参数，并输出相应的监测信号；

主控电路，所述主控电路的输入端与所述数据输入器连接，所述主控电路还与所述监测电路连接，所述主控电路的输出端与上位机连接，所述主控电路的输出端还与所述调控电路连接；所述主控电路用于对所述测试参数设置信号对应的所述测试参数设置指令进行预分析处理；根据所述测试参数设置信号生成参数设置值，当所述参数设置值在预设参数设置范围值内时，根据所述测试参数设置信号控制所述调控电路工作，并控制所述监测电路工作；再将所述监测信号对应的工作参数与所述参数设置值进行比较，在所述工作参数与所述参数设置值不一致时，输出所述参数重置信号至所述上位机；以及

当所述参数设置值未在预设参数设置范围值内时，输出参数重置信号至所述上位机。

2.如权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述主控电路包括：

数据预分析电路，所述数据预分析电路的输入端与所述数据输入器连接，所述数据预分析电路用于对所述测试参数设置信号对应的所述测试参数设置指令进行预分析处理，并输出数据预分析结果信号；

控制器，所述控制器的输入端与所述数据预分析电路连接，所述控制器的输出端还与所述性能检测电路连接，所述控制器用于根据所述数据预分析结果信号控制所述性能检测电路工作。

3.如权利要求2所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述集成电路测试系统包括：

指示电路，所述指示电路与所述控制器连接，所述指示电路用于在工作时输出指示信号；

所述控制器还用于根据所述数据预分析结果信号控制所述指示电路工作，以指示所述数据预分析电路的预分析处理结果。

4.如权利要求3所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述指示电路包括：

红色LED灯，用于在工作时发出红色光；

绿色LED灯，用于在工作时发出绿色光；

红色LED灯驱动电路，所述红色LED灯驱动电路的受控端与所述控制器连接，所述红色LED灯驱动电路的输入端与所述红色LED灯连接，所述红色LED灯驱动电路用于驱动所述红色LED灯工作；

绿色LED灯驱动电路，所述绿色LED灯驱动电路的受控端与所述控制器连接，所述绿色LED灯驱动电路的输入端与所述绿色LED灯连接，所述绿色LED灯驱动电路用于驱动所述绿色LED灯工作；

所述控制器还用于在所述参数设置值未在预设参数设置范围值时，所述控制器控制所述红色LED灯驱动电路工作，以驱动所述红色LED灯发红光；以及

所述参数设置值在预设参数设置范围值时，所述控制器控制所述绿色LED灯驱动电路工作，以驱动所述绿色LED灯发绿光。

5.如权利要求2所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述监测电路包括：

温度检测电路，所述温度检测电路与所述控制器连接，所述温度检测电路用于检测所述集成电路测试设备内的温度并输出相应的温度检测信号。

6.一种集成电路测试设备，其特征在于，所述集成电路测试设备包括性能检测电路、数据输入器以及如权利要求1-5任意一项所述的集成电路测试系统。

7.如权利要求6所述的集成电路测试设备，其特征在于，所述性能检测电路包括电压检测电路，所述电压检测电路的检测端与所述被测集成电路连接，所述电压检测电路的输出端与所述主控电路连接，所述电压检测电路用于检测所述被测集成电路的输出电压并输出相应的电压检测信号至所述主控电路。

8.如权利要求7所述的集成电路测试设备，其特征在于，所述电压检测电路包括分压电路，所述分压电路的输入端与所述被测集成电路的输出端连接，所述分压电路的输出端与所述主控电路连接，所述分压电路用于将所述被测集成电路的输出电压进行降压处理后输出所述电压检测信号。