[发明专利]一种用于多site并行测试的测试机台防呆方法及装置在审
| 申请号： | 202310333536.4 | 申请日： | 2023-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN116593849A | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 曹敬芳 | 申请（专利权）人： | 普冉半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 童素珠 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及半导体晶圆测试领域，提供了一种用于多site并行测试的测试机台防呆方法，包括：当测试机台的cable线与测试板的site连接后，通过测试机台测试每个所述site的电压值；判断每个所述site的电压值是否符合预期电压值；若所述site的电压值不符合预期电压值时，发出基于所述site的编号以及与所述site连接的cable线的编号进行现场检查的提示，以使所述site的电压值符合预期电压值；当所述site的电压值符合预期电压值后，所述测试机台通过防呆测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 site 并行 测试 机台 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于普冉半导体（上海）股份有限公司，未经普冉半导体（上海）股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310333536.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
