[发明专利]一种半导体测试治具有效
| 申请号： | 202310322824.X | 申请日： | 2023-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN116027166B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 杨碧霞;孙传碑 | 申请（专利权）人： | 广东中科启航技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/02;G01R1/04;B65G47/91 |
| 代理公司： | 北京专赢专利代理有限公司 11797 | 代理人： | 李斌 |
| 地址： | 528225 广东省佛山市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于半导体测试技术领域，提供了一种半导体测试治具，包括：基座、检测探针以及用于放置待检测半导体的支撑台，所述支撑台位于所述基座上；至少一组用于存放半导体的收纳盒，所述收纳盒位于所述基座上，且收纳盒内还开设有容纳槽；用于移动半导体的搬运机构，所述搬运机构包括升降板、移动板、除尘组件以及吸附组件，所述升降板通过升降组件安装于基座上，移动板通过移动块滑动安装于升降板内，且升降板内安装有用于带动移动块运动的移动组件，该发明通过搬运机构的设置，避免了现有治具功能单一，在搬运半导体的过程中无法同时清除灰尘，使得半导体在测试前需要工作人员单独清灰，严重影响测试效率的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 | ||
【主权项】：
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