[发明专利]样品测试箱和样品测试方法在审
| 申请号： | 202310283557.X | 申请日： | 2023-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN116337956A | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 赵振博;刘沛江;徐焕翔;赵昊;孙朝宁;戴宗倍;金志利 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01N27/22 | 分类号： | G01N27/22;G01N17/00;G01N25/00 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 陈小娜 |
| 地址： | 511370 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及材料测试技术领域，特别是涉及一种样品测试箱和样品测试方法。所述样品测试箱包括：箱体和控制器，其中，箱体设置有环境调节装置，且环境调节装置与控制器连接，箱体内部设置有样本放置台，用于放置待测样品，控制器用于在获取到样品老化事件的情况下，调节环境调节装置，为待测样品创建老化环境，以加速待测样品老化，样品放置台与外部介电测试装置连接，用于在待测样品老化的过程中，通过外部介电测试装置对待测样品的介电性能进行测试。采用上述样品测试箱，能够测量待测样品老化过程中介电性能的变化。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 测试 方法 | ||
【主权项】：
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