[发明专利]样品测试箱和样品测试方法

权利要求书

1.一种样品测试箱，其特征在于，所述样品测试箱包括：箱体和控制器；所述箱体设置有环境调节装置，且所述环境调节装置与所述控制器连接；所述箱体内部设置有样本放置台，用于放置待测样品；

所述控制器，用于在获取到样品老化事件的情况下，调节所述环境调节装置，为所述待测样品创建老化环境，以加速所述待测样品老化；

所述样品放置台与外部介电测试装置连接，用于在所述待测样品老化的过程中，通过所述外部介电测试装置对所述待测样品的介电性能进行测试。

2.根据权利要求1所述的样品测试箱，其特征在于，所述样品放置台由介电测试夹具和温度绝缘支架组成；其中，所述待测样品放置于所述介电测试夹具的两个夹板之间，且所述介电测试夹具与所述控制器连接；

所述控制器，还用于在对所述待测样品进行介电性能测试之前，对所述介电测试夹具进行加压，以去除两个待测样品中的残留空气。

3.根据权利要求2所述的样品测试箱，其特征在于，所述介电测试夹具置于所述温度绝缘支架之上；

所述温度绝缘支架内的内部传输线的一端与所述外部介电测试装置连接，另一端放置于两个待测样品之间，用于向两个待测样品传递所述外部介电测试装置激发的谐振信号。

4.根据权利要求2或3所述的样品测试箱，其特征在于，所述介电测试夹具为带状线夹具。

5.根据权利要求3所述的样品测试箱，其特征在于，所述外部介电测试装置向所述待测样品传递的谐振信号的频率范围为1GHz-30GHz。

6.根据权利要求1所述的样品测试箱，其特征在于，所述环境调节装置包括加热装置和制冷装置；所述加热装置设置于所述箱体的保温壳的内底部，所述制冷装置设置于所述保温壳的内顶部，所述保温壳设置于所述箱体的外部。

7.根据权利要求6所述样品测试箱，其特征在于，所述箱体内部还设置有温度传感器，用于采集所述箱体的内部温度；

所述控制器，还用于根据所述内部温度，调节所述加热装置或所述制冷装置，为所述待测样品创建老化环境中的温度环境。

8.根据权利要求6所述的样品测试箱，其特征在于，所述环境调节装置还包括风扇，所述风扇设置于所述箱体的内壁；

所述箱体内部还设置有氧气传感器，用于采集所述箱体的内部氧气浓度；

所述控制器，还用于根据所述箱体内的内部氧气浓度，调节所述风扇的工作模式，为所述待测样品创建老化环境中的氧化环境。

9.根据权利要求6所述的样品测试箱，其特征在于，所述箱体内部还设置有预警装置，用于在所述箱体的内部温度高于温度阈值时，输出预警信号。

10.一种样品测试方法，应用于权利要求1-9中任一项所述的样品测试箱，其特征在于，所述方法包括：

响应于样品老化事件，通过所述样品测试箱中的控制器，调节所述环境调节装置，为待测样品创建老化环境，以加速所述待测样品老化；

在所述待测样品老化的过程中，通过与所述样品测试箱中的样品放置台连接的外部介电测试装置，对所述待测样品的介电性能进行测试。