[发明专利]一种基于超启发式多维分布估计的半导体最终测试调度方法

摘要

本发明提供基于超启发式多维分布估计的半导体最终测试调度方法，对芯片制造业中存在的SFTSP，考虑半导体最终测试设备资源约束以最小化最大完工时间为优化目标，提出超启发式多维分布估计算法进行求解。设计活动化编解码规则提高半导体最终测试设备的利用率。设计5种有效的低层启发式方法，将其构成的启发式序列作为种群个体，在高层采用多维分布估计算法建立基于矩阵立方体的概率模型，用以学习和积累种群优质个体中LLH类型及其位置信息，使用采样方法对概率模型采样生成新的种群个体，按顺序依次执行种群个体中的LLH，以实现对SFTSP解空间较为深入且细致的搜索，最后获得最优的调度方案，进而提高半导体最终测试的效率和质量。