[发明专利]一种真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法和装置有效

专利信息
申请号: 202310220776.3 申请日: 2023-03-09
公开(公告)号: CN116068609B 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 王福地;符佳;张洪明;卢迪安;金仡飞;吕波 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01B11/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 陈志明
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及弯曲晶体谱仪技术领域,公开了一种真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法和装置,方法包括将真空腔室的真空度抽至10‑5 Pa量级;其中,探测器腔室中预先设有空间位置可调的至少五个氦氖激光管;获取至少五个所述氦氖激光管的初始三维坐标,并控制至少五个所述氦氖激光管开启,以使至少五个所述氦氖激光管的激光束经过球面弯曲晶体后成像;获取所述激光束的成像点三维坐标;根据一元线性回归分析得到关于所述初始三维坐标与所述成像点三维坐标的线性关系,以完成真空环境下弯晶谱仪的空间位置标定。本发明能够完成在真空环境下对弯晶谱仪进行精确的空间位置标定,能够解决原位空间位置标定的难题。
搜索关键词: 一种 真空 环境 下弯晶谱仪 空间 位置 标定 方法 装置
【主权项】:
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