[发明专利]一种真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法和装置有效
| 申请号： | 202310220776.3 | 申请日： | 2023-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN116068609B | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 王福地;符佳;张洪明;卢迪安;金仡飞;吕波 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 陈志明 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 真空 环境 下弯晶谱仪 空间 位置 标定 方法 装置 | ||
1.一种真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法，其特征在于，包括：
将真空腔室的真空度抽至10-5 Pa量级；其中，探测器腔室中预先设有空间位置可调的至少五个氦氖激光管；
获取至少五个所述氦氖激光管的初始三维坐标，并控制至少五个所述氦氖激光管开启，以使至少五个所述氦氖激光管的激光束经过球面弯曲晶体后成像；
获取所述激光束的成像点三维坐标；
根据一元线性回归分析得到关于所述初始三维坐标与所述成像点三维坐标的线性关系，以完成真空环境下弯晶谱仪的空间位置标定。
2.根据权利要求1所述的真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法，其特征在于，所述线性关系包括：
y’= -3.47y-0.14
其中，y’表示成像点三维坐标，y表示初始三维坐标。
3.根据权利要求1所述的真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法，其特征在于，至少五个氦氖激光管在所述真空腔室中以垂直探测器平面的方式竖直排列。
4.根据权利要求2所述的真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法，其特征在于，所述氦氖激光管设有五个，五个所述氦氖激光管的初始三维坐标分别为y1（0 mm, 0 mm, 60mm）、y2（0 mm, 0 mm, 30mm）、y3（0 mm, 0 mm, 0mm）、y4（0 mm, 0 mm,-30mm）、y5（0 mm, 0 mm,-60mm）。
5.根据权利要求4所述的真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法，其特征在于，五个所述激光束的成像点三维坐标中竖直方向坐标分别为-210mm、-102mm、0mm、+104mm、+207mm。
6.根据权利要求1所述的真空环境下弯晶谱仪空间位置标定方法，其特征在于，在根据一元线性回归分析得到关于所述初始三维坐标与所述成像点三维坐标的线性关系，以完成真空环境下弯晶谱仪的空间位置标定之后，所述方法还包括：
根据所述线性关系得到关于探测器位置与EAST真空室位置的线性拟合关系；
将所述线性拟合关系中的探测器位置坐标和探测器的像素值相对应，以进行实验。
7.一种真空环境下弯晶谱仪空间位置标定装置，其特征在于，包括：
真空腔室，所述真空腔室连通有探测器腔室，所述真空腔室内设有球面弯曲晶体，所述探测器腔室内设有空间位置可调的至少五个氦氖激光管；
位置标定模块，包括激光追踪仪和线性回归分析模块；其中，所述激光追踪仪用于获取至少五个所述氦氖激光管的初始三维坐标以及激光束的成像点三维坐标；所述线性回归分析模块用于根据一元线性回归分析得到关于所述初始三维坐标与所述成像点三维坐标的线性关系，以完成真空环境下弯晶谱仪的空间位置标定。
8.根据权利要求7所述的真空环境下弯晶谱仪空间位置标定装置，其特征在于，至少五个氦氖激光管在所述真空腔室中以垂直探测器平面的方式竖直排列。
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