[发明专利]一种NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法在审
| 申请号： | 202310184178.5 | 申请日： | 2023-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN116185701A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 赵莎莎;王璞;杨雪;唐汉钊 | 申请（专利权）人： | 山东华芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G11C29/42 |
| 代理公司： | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人： | 赵玉凤 |
| 地址： | 250101 山东省济南市高新*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法，本方法包括数据准备、读命令发送、结果返回、数据处理分析几个阶段。在数据准备阶段，构造不同空页场景，读命令发送阶段，根据数据准备，发送不同模式的读命令。结果返回，返回是否读到空页以及空页数。数据处理分析阶段对测试结果与预期结果进行比较分析，生成可视化报告。本发明可验证闪存控制器能否有效识别出空页，提高系统的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nandflash 控制器 测试 方法 验证 | ||
【主权项】：
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