[发明专利]一种NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法

权利要求书

1.一种NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法，其特征在于：包括以下步骤：

S01）、数据准备，信息初始化并构造不同的空页场景；

S02）、读命令发送，根据数据准备，发送不同模式的读命令；

S03）、结果返回，根据发送的读命令，返回是否读到空页以及空页数，返回的数据称为测试结果；

S04）、数据处理分析，将测试结果与预期结果进行比较分析，比较测试结果与预期结果是否一致，如果一致，则空页测试方法正确，否则不正确。

2.根据权利要求1所述的NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法，其特征在于：通过擦除、写数据、不同模式读操作构造不同的空页场景。

3.根据权利要求1或2所述的NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法，其特征在于：空页场景包括擦除后不写入数据直接读取、写入数据的block与读取数据block不一致、读写闪存类型不同、数据写入读取正确。

4.根据权利要求3所述的NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法，其特征在于：擦除后不写入数据直接读取的验证过程为：从起始block序列号开始，对于每一轮操作，先往NANDFlash控制器发送单条擦操作，完成擦操作后，再发送single plane读操作，当起止block擦除完毕，再进行multi-plane读操作，对于每次读操作，都设置读出的空页预期值，并封装空页判断接口，空页判断接口判断读操作实际读出的空页；

本空页场景下，预期结果的设置方式为：如果操作两个block块，single plane读，当此次操作的block号为偶数时，空页预期值设置为1，当操作的block号为奇数时，空页预期值设置为2；multi-plane读，空页预期值设置为3。

5.根据权利要求3所述的NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法，其特征在于：写入数据的block与读取数据block不一致的验证过程为：选择擦除的block号为偶数的块，写入数据，并对此块以及此块号+1的块分别进行不同模式的读操作，校验空页读取个数；

本空页场景下，预期结果的设置方式为：single plane读时，若此次操作的block为偶数时，空页预期值设置为0，若操作的block为奇数时，空页预期值为2；multi-plane 读，空页预期值设置为2。

6.根据权利要求3所述的NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法，其特征在于：读写闪存类型不同的验证过程为：选择与写入数据不同的闪存类型，对此块进行读操作，NANDFlash控制器返回命令执行失败，出现LDPC校验错误现象，如果空页数为0，验证不是空页引起的LDPC数据校验错误，如果空页数大于或者等于1，则是空页引起的LDPC数据校验错误。

7.根据权利要求3所述的NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法，其特征在于：数据写入读取正确的验证过程包括：1、擦除block号为偶数的block块，写数据到block号+1的块，并对这两个块分别进行single plane读操作，再multi-plane读，校验空页读取个数，single plane读时，若此次操作的block为偶数时，空页预期值设置为1，若操作的block为奇数时，空页预期值为0；multi-plane 读，空页预期值设置为1；2、写数据到block号为偶数的block块，multi-plane读，校验空页读取个数，空页预期值设置为0。

8.根据权利要求1所述的所述的NANDFlash控制器空页测试方法的验证方法，其特征在于：初始化信息包括nand存储组织结构信息，确定操作的channel、chip、lun、block号、传输大小以及传输方式。