[发明专利]一种测试头和固定拆卸方法及其形成的自动测试设备在审

专利信息
申请号: 202310165841.7 申请日: 2023-02-24
公开(公告)号: CN116125111A 公开(公告)日: 2023-05-16
发明(设计)人: 周晴;祝庆斌;刘明 申请(专利权)人: 上海御渡半导体科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/00
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;徐琳
地址: 201306 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种固定拆卸装置和方法、及其形成的自动测试设备,其中,便于固定拆卸的测试头包括板卡和过渡器,还包括用于固定或者分离过渡器和板卡的锁止组件,所述锁止组件包括位于过渡器中的第一电磁铁,和位于板卡中的第二电磁铁,所述第一电磁铁和第二电磁铁相对设置,所述第一电磁铁和第二电磁铁分别连接至第一电路和第二电路;通过控制第一电路和第二电路的电流流向,使得第一电磁铁和第二电磁铁相吸或者相斥,实现板卡和过渡器的固定和拆卸。本发明利用电磁铁之间的吸力和斥力实现过渡器和板卡之间的快速安装和拆卸,显著提升了过渡器的更换效率。
搜索关键词: 一种 测试 固定 拆卸 方法 及其 形成 自动 设备
【主权项】:
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