[发明专利]一种测试头和固定拆卸方法及其形成的自动测试设备

说明书

本发明公开了一种固定拆卸装置和方法、及其形成的自动测试设备，其中，便于固定拆卸的测试头包括板卡和过渡器，还包括用于固定或者分离过渡器和板卡的锁止组件，所述锁止组件包括位于过渡器中的第一电磁铁，和位于板卡中的第二电磁铁，所述第一电磁铁和第二电磁铁相对设置，所述第一电磁铁和第二电磁铁分别连接至第一电路和第二电路；通过控制第一电路和第二电路的电流流向，使得第一电磁铁和第二电磁铁相吸或者相斥，实现板卡和过渡器的固定和拆卸。本发明利用电磁铁之间的吸力和斥力实现过渡器和板卡之间的快速安装和拆卸，显著提升了过渡器的更换效率。

技术领域

本发明涉及板卡测试装置领域，尤其涉及一种测试头和固定拆卸方法及其形成的自动测试设备。

背景技术

在半导体自动化测试设备中，板卡和过渡器共同形成测试头，其中，过渡器的一端通过测试连接器连接板卡连接器，另一端连接至被测产品。通过设置过渡器可以使得产品和板卡分离开来，且产品只需要连接至过渡器，无需直插接在板卡上，避免多次插拔对板卡连接器造成损坏。

测试头长时间且多次进行插拔工作之后，过渡器中的连接器可能发生磨损，过渡器中被损坏的连接器可能是连接待测产品的连接器，也可能是连接板卡的连接器，不管哪种连接其发生损坏，都会影响测试通路的导通，此时，就需要更换新的过渡器。

现有技术中，在拆分过渡器和板卡的时候，需要先将测试连接器和板卡连接器断开，但是测试连接器和板卡连接器之间的保持力较大，且数量较多，多个测试连接器和板卡连接器的保持力总和可达上万N，直接将测试连接器和板卡连接器拆分的难度较大。

现有技术中分离过渡器和板卡的方案为：逐个拆除板卡，待板卡全部从测试框架中拔出之后，再将过渡器取出；更换过渡器之后，再逐一将板卡安装回测试框架中。这种拆除方案由于板卡数量较多，费时费力，效率低，严重影响了过渡器的更换效率。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的问题之一。为此，本发明的目的在于提供一种测试头和固定拆卸方法及其形成的自动测试设备，利用电磁铁之间的吸力和斥力实现过渡器和板卡之间的快速安装和拆卸，显著提升了过渡器的更换效率。

为了实现上述目的，本申请采用如下技术方案：一种便于固定拆卸的测试头，包括板卡和过渡器，还包括用于固定或者分离过渡器和板卡的锁止组件，所述锁止组件包括位于过渡器中的第一电磁铁，和位于板卡中的第二电磁铁，所述第一电磁铁和第二电磁铁相对设置，所述第一电磁铁和第二电磁铁分别连接至第一电路和第二电路；

通过控制第一电路和第二电路的电流流向，使得第一电磁铁和第二电磁铁相吸或者相斥，实现板卡和过渡器的固定和拆卸。

进一步的，所述板卡固定在测试框体内部，所述过渡器位于测试框体内侧，所述第二电磁铁与所述测试框体固定连接。

进一步的，所述板卡靠近过渡器的一侧设置有板卡连接器，所述过渡器靠近板卡的一侧设置有测试连接器，所述测试连接器和板卡连接器相适配。

进一步的，所述板卡为若干个，所述过渡器中设置有若干个与板卡连接器一一对应的测试连接器。

进一步的，所述第一电路和第二电路中设置有控制组件，所述控制组件用于根据板卡的数量设定电流大小，确保第一电磁铁和第二电磁铁之间的斥力能够带动过渡器远离测试框架。

进一步的，所述过渡器和测试框体相对的侧面中分别设置有导向组件，所述导向组件包括位于测试框架中的导向凹槽，以及位于过渡器中的导向柱。

进一步的，所述过渡器和测试框体相对的侧面中分别设置有导向组件，所述导向组件包括位于测试框架中的导向柱，以及位于过渡器中的导向凹槽。