[发明专利]一种光学相干断层多点分布式成像方法在审
| 申请号： | 202310054182.X | 申请日： | 2023-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN116223374A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 丁尧禹;雷晨光;李浩;李金键;赵天意;白利兵;周权;张杰;田露露;程玉华 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;A61B5/00;G01N21/47 |
| 代理公司： | 成都行之智信知识产权代理有限公司 51256 | 代理人： | 温利平 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学相干断层多点分布式成像方法，将相干光源在测量臂和参考臂分成若干子光路干涉对，通过对参考臂进行偏移，使得每个子光路干涉对在系统成像深度范围内不同的深度区间内干涉成像，最后根据预先设定的A扫窗口位置及宽度对每个干涉对进行截断与后处理，得到每个相应测点的A扫图。相较于传统机械式扫描方法，本发明能够同步高速地采集多个兴趣点的断层图像，具有布点灵活、检测原位同步等优点，特别是对多测点同步要求高的高频动态过程监测，以及测点分布在狭窄、凹凸复杂的空间等机械式扫描难以扫描到的应用场景。另外，相较于现有的多探头系统实现多点分布式测量，本发明具有同步性高、算力功耗小、集成度高、硬件成本低的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 相干 断层 多点 分布式 成像 方法 | ||
【主权项】：
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